EMI測試
EM5030 是一款主要用于查找幹擾源(yuán)，判定幹擾産生原因的高性價(jià)比近場探頭。可用來檢測器件表面(miàn)的磁場方向以及強度；檢測磁場耦(ǒu)合的通道，從而(ér)調(diào)整(zhěng)連接器位置；檢測模塊(kuài)附近的(de)磁場環境(jìng)。爲了降低幹擾，尋找到真正的幹擾源或(huò)者是其傳播的途徑是非(fēi)常有必要的，通過近場探頭(tóu)測量可(kě)以很方便地實現定位功能。通過配合本公司的EM5020前置放大器可以提(tí)高系統測試靈敏(mǐn)度。大大的減少(shǎo)産品的研發周期，減少往返實驗室的(de)時(shí)間和金錢，減(jiǎn)少不必要的錯誤測(cè)試。 EM5030近場探頭就是(shì)解決問題的最好(hǎo)利器(qì)！
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型(xíng)号 |
說明 |
特性 |
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磁場近(jìn)場(chǎng)探頭，可檢(jiǎn)查10cm範圍内(nèi)的磁場(chǎng)。
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磁場近(jìn)場探頭，可檢查3cm範圍内的磁場。
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磁場近場探頭，主要用于線纜電磁洩漏測試。
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磁場近場探頭，可檢測垂直方向發射的電磁場 。
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