電子測(cè)量儀器
什麽是數據挖掘(jué)型示(shì)波器？
捕獲512M海(hǎi)量的波形大數據，配合深(shēn)層次數(shù)據挖掘能力，基于全觸屏和流暢(chàng)的操作體驗，以一種(zhǒng)全新(xīn)的分析(xī)方(fāng)式定位問題，這就是數據挖掘(jué)型示波器！
數據挖掘第一步：512M大數據存儲
存儲深度等于采樣率乘以采樣時間，512M超大存儲深度(dù)，長時間捕獲波形，依(yī)然不會出現波形(xíng)失真。
數據挖掘第二步：1M刷新率異常捕獲
波形刷新率越高，死區時間就越短。ZDS4000系列(liè)示波器，标配業界最高的1M次波形刷新率，配合模闆觸發，讓您最大概率的(de)發現并捕獲異常信号。
數據挖掘第三步：真正意義(yì)參數測量
不同于傳統示波器隻測(cè)一個周期，或通過抽樣減少數據量再(zài)測量的(de)模(mó)式，ZDS4000系列示波器(qì)通過FPGA全(quán)硬件并行處理，基于原(yuán)始采樣率和512Mpts全存儲深度(dù)，對每一幀波形每一周期進行測量統計，僅需約1秒即可實現對512Mpts數據的“真正意義”參數測量，測試項目(mù)可達(dá)51種，并且支(zhī)持24種參數同(tóng)時(shí)顯示。這與傳統意義示波器的(de)測量(liàng)有着本質的區别，也是示波器測試手段與測試方法的重大突破。
數據挖掘第四步：波形搜索(suǒ)與智能标注
ZDS4000系列(liè)示(shì)波器不隻提供了512M的波(bō)形大數據，還配(pèi)有強大的波形搜索功能和智能标注功能。您可以先通過邊沿、脈寬、欠幅、上升/下降時間、周期/頻率等多種搜索條件來(lái)定位(wèi)512Mpts波形數據中的異常點，再對找出的異常信号使用标注功能，對異常信号進行(háng)标注。這裏，所有的(de)測量都是經過FPGA全硬件加速，整個過程1S左右即可完成。再對找出的異常信号使用标注功能，對異常信号進行标注(zhù)。
分析插件(jiàn)與特色功能
不同于每一種分(fèn)析插件單獨付費的形式(shì)，ZDS4000系列示波器所有(yǒu)分析插件全部(bù)标配，可以針對興趣波形進行更進一步的深度分析，大大提(tí)高整體系統信号的故障調試效率，協助工程師快速(sù)定位出問題。
ZDS4000系列示波器(qì)每個(gè)通道都内置有從50Hz到200MHz範圍的濾波器，特别适用于過濾掉無用信号、觀察特定(dìng)帶寬信号的場合(hé)，而且支持對濾波之後的波形進行觸發和測量分析(xī)。
ZDS4000系列示波器支持(chí)雙ZOOM模式，可(kě)以爲兩個縮放窗(chuāng)口分别設置縮放系數，所以可以同時顯示兩個不同時間軸(zhóu)範圍的縮放波(bō)形，配合觸屏(píng)和大旋鈕的便捷操作，也能夠輕松對各個窗口的波形進行控制。
如果需要捕(bǔ)獲的信号是(shì)低占(zhàn)空比脈沖或猝發信号，并且(qiě)信号之間有較長的空閑時間(jiān)， 使用ZDS4000系列示波器的分段存儲功能，可以有效地延長(zhǎng)波形采樣時間。
ZDS4000系列示波器支持波形通道(dào)之間的自定義運(yùn)算功能，并不隻是簡單的通道間加減(jiǎn)乘除，而是(shì)自定義波形表達式進行運算(suàn)。假設1通道輸入了電壓波形，2通道輸入了電流波形，那麽隻需要設置表達式爲Intg（CH1*CH2）就可以直接得到能量曲線。所有(yǒu)運算都基于FPGA全硬件(jiàn)加速，運算波形在(zài)幾百毫秒之内即可呈現。
市面上多數示波器最大隻支持8K樣本點的(de)FFT分析，在1G采樣率的情況下，頻率(lǜ)分辨率僅有125KHz，多數情(qíng)況都無法準确判斷信号頻譜(pǔ)分布(bù)。ZDS4000系列示波器拒(jù)絕單純的功能堆砌，内部采用了專業的處理芯片，突破技術壁壘，将FFT分析點數升(shēng)級(jí)至4M樣本點(diǎn)，同(tóng)樣在1G采樣率的(de)情況下頻率分辨率能精确到250Hz，可以準确分析出電路中的幹擾噪聲來源，大大(dà)提高了示波器FFT的實用價值。
對于數據挖掘型示波器而言，不僅可以利用示波(bō)器強大的(de)分析功能在示波器上進行分析，還可以通過(guò)以太(tài)網将512M的波形大數據(jù)導出到，使用示波器标配Wave Analyze波形綜合分析軟件進行進一步的離線分析。
不同(tóng)于每一種分析插件單獨付費的(de)形式，ZDS4000系列示波器(qì)所有分析插件(jiàn)全部标配，可(kě)以(yǐ)針(zhēn)對(duì)興趣波形進行(háng)更進(jìn)一步(bù)的深度分析，大大提高整體系統信号的故障調試效率，協助工程師快速定位(wèi)出問題。
